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集成电路测试指南 已借26次.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2021
文献类型: 图书 , 索书号: TN40/15
2.
CMOS图像传感器封装与测试技术 已借3次.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书 , 索书号: TP21/169